Semarang, Jatengaja.com - Laboratorium terpadu Universitas Diponegoro (Undip) Semarang dilengkapi dua alat mikroskopi canggih XPS dan TEM, yang mampu menganalisis material hingga skala nano.

Kehadiran alat canggih X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) dan Transmission Electron Microscope (TEM) ini memperkuat Laboratorium Terpadu Undip sebagai pusat riset unggulan di Indonesia.

UPT Laboratorium Terpadu UNDIP telah terakreditasi oleh KAN-BSN sebagai Laboratorium Penguji (LP-1465-IDN) dari tahun 2021 hingga tahun 2026.

• BRI Bantu Pengusaha Batik Tulis Rambah Pasar Internasional Lewat Pemberdayaan UMKM
• Super App BRImo Tambah Fitur Baru, Bisa Bahasa Indonesia dan Inggris
• Tri Ibadah Solusi Agar Jemaah Umroh dan Haji Tetap Terhubung Keluarga Selama Berada di Tanah Suci
• Menteri ATR/BPN Nusron Wahid Sebut 450 Ribu Hektare Lahan di Jateng Belum Bersertifikat
• Perhiasan Batu Alam Indonesia Semakin Mendunia Lewat Peran BRI

Kepala UPT Laboratorium Terpadu Undip, Prof. Dr. Istadi, S.T., M.T menyatakan, alat canggih XPS dan TEM tergolong limited edition karena hingga saat ini di Indonesia hanya terdapat tiga unit.

“Selain di Undip, dua unit lainnya berada di Badan Riset dan Inovasi Nasional (BRIN) dan Universitas Indonesia (UI),” katanya.

Menurut Prof. Istadi alat XPS atau X-Ray Photoelectron Spectroscope merupakan alat uji yang mampu menganalisis secara kualitatif dan kuantitatif suatu senyawa yang ada di dalam suatu material yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan dan komposisi atomik unsur suatu bahan menggunakan prinsip binding energy secara molecular/

Penggunaan alat uji XPS memungkinkan analisis komposisi atomik suatu material atau fasa pada material yang lebih akurat.

Semisal ketika akan dilakukan uji komposisi sebuah logam besi, XPS digunakan untuk menentukan tingkat kemurniannya serta mengidentifikasi apakah material tersebut tergolong sebagai besi elemental atau besi oksida.

Identifikasi kualitatif dan kuantitatif (komposisi % atomik) fasa senyawa juga dapat diukur secara lebih akurat dan lebih nyata, misalnya bisa membedakan antara Fe, FeO, Fe₂O₃, atau Fe3O4.

“Dengan teknologi XPS, pengukuran senyawa yang terdapat dalam material dapat dilakukan dengan presisi tinggi,” ujar Guru besar Teknik Kimia Fakultas Teknik Undip ini.

Sebelumnya, analisis senyawa dalam material dapat dilakukan menggunakan mesin XRD (X-Ray Diffraction), dengan syarat material harus berbentuk kristal.

Keunggulan alat uji XPS adalah kemampuannya dalam menganalisis baik material kristal maupun non-kristal dengan lebih mendetail. Hal ini memungkinkan eksplorasi struktur senyawa dalam material hingga ke tingkat molekular.

Sedangkan alat uji TEM, lanjut Prof Istadi, merupakan mikroskop yang mampu menganalisis material hingga skala nano. Dengan TEM, peneliti dapat mengamati struktur material hingga ukuran 0,1 nanometer.

“Nano itu 109, kalau 1 meter 109 nano. Kita bisa bayangkan 1 meter dibagi 109. Jadi sekecil apa, kita bisa melihat sampai 0,1 nano menggunakan TEM. Alat ini bisa mengukur dan menampilkan ukuran lattice kristal hingga ukuran 0.14 nm dengan metode High Resolution TEM (HR-TEM) menggunakan teknologi canggih dari TEM,” ucap Prof. Istadi.

Sebelum adanya alat uji TEM, praktisi laboratorium menggunakan alat uji SEM (Scanning Electron Microscope) yang mampu melihat suatu material sampai ukuran 100 mikro meter.

Keunggulan TEM terletak pada kemampuannya dalam mengamati struktur material pada skala nano, memungkinkan identifikasi bentuk dan ukuran dengan lebih detail. Material yang diuji bisa berupa membran, thin film, advanced material, namun demikian untuk life science (biologi) belum support alat preparasi sampelnya, dan lain-lain.

Saat ini, UNDIP memiliki dua analis atau teknisi yang terlatih khusus dalam mengoperasikan alat uji XPS dan TEM.

Mereka telah menjalani pelatihan intensif selama satu minggu di perusahaan produsen alat uji di Jepang, yang kemudian dilanjutkan dengan pelatihan lanjutan di Indonesia.

Dalam proses uji sampel, terdapat perbedaan antara kedua alat uji tersebut. Dalam satu hari, alat uji XPS dapat digunakan untuk menguji sampel paling banyak dua sampel uji, karena proses analisis datanya yang butuh waktu.

Alat uji XPS memerlukan proses pengkondisian ultra high vakum yang membutuhkan waktu semalaman sebelum bisa dipakai keesokan harinya.

• 12.500 Pelari Akan Memeriahkan Digiland Run 2025
• Buyback Rp3 Triliun Jadi Sinyal Optimisme BRI Hadapi Masa Depan
• Kepemimpinan PERBANAS 2024–2028 Dipercayakan kepada Hery Gunardi

Pengujian sampel dengan TEM berlangsung cepat, tetapi persiapan sampelnya memerlukan waktu lebih lama, misalnya, sampel uji harus dipotong hingga sangat tipis agar elektron dapat menembus materialnya dan menghasilkan citra yang akurat.

Prof Istadi menambahkan siap mendukung para peneliti di Undip yang kebetulan bidang ilmunya membutuhkan alat yang tersedia di Laboratorium Terpadu, dan juga bekerja sama dengan LPPM untuk pencapaian indikator kinerja dari riset.

“Kita full support untuk mencapai riset yang canggih dan mendorong publikasi di jurnal ke level yang paling tinggi serta implementasi hasil teknologi di masyarakat dan industry,” tandasnya. (-)